Ключевые слова: presentation, HTS, REBCO, coated conductors, doping, fabrication, IBAD process, PLD process, high rate process, doping, coils pancake, current-voltage characteristics, uniformity, Jc/B curves, angular dependence, critical current, magnetic field dependence, mechanical properties, thickness dependence, fatigue behavior, stress effects, strain effects
Ключевые слова: presentation, HTS, cables, refrigerator, fabrication, test results, photo, termination, joints, operational performance
Iijima Y., Kiss T., Iwakuma M., Sato H., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Naoe K., Kurihara C., Nakamura N., Daibo M., Muto S., Hirata W.
Iijima Y., Higashikawa K., Kiss T., Iwakuma M., Fujita S., Igarashi M., Kurihara C., Nakamura N., Uetsuhara D.
Iijima Y., Kakimoto K., Fujita S., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Adachi Y., Nakamura N., Kikutake R., Daibo M., Nagata M., Ohsugi M., Tateno F.
Honjo S., Masuda T., Watanabe M., Nakano T., Ohya M., Maruyama O., Yaguchi H., Nakamura N., Machida A.
Ключевые слова: power equipment, grid operation, test long-term operation, HTS, Bi2223, tapes, cables three-in-one, pressure drop, fault currents, heat losses, ac losses
Ключевые слова: HTS, GdBCO, coated conductors, mechanical properties, tensile tests, stress effects, transverse stress, experimental results
Honjo S., Masuda T., Hirose M., Watanabe M., Nakano T., Maruyama O., Yaguchi H., Nakamura N., Shimoda M., Machida A.
Iijima Y., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Tobita H., Nakamura N., Kikutake R., Daibo M., Nagata M.
Honjo S., Masuda T., Watanabe M., Yumura H., Ashibe Y., Ohya M., Hara T., Itoh H., Mimura T., Ichikawa H., Yaguchi H., Nakamura N., Shimoda M., Ohno R., Komagome T.
Honjo S., Masuda T., Watanabe M., Yumura H., Ashibe Y., Ohya M., Hara T., Nakanishi T., Mimura T., Ichikawa H., Ikeuchi M., Yaguchi H., Nakamura N., Hirota H., Shimoda M., Komagome T., Ono R., Machida A.
Saito T., Honjo S., Masuda T., Hirose M., Watanabe M., Yumura H., Ashibe Y., Ohya M., Hara T., Ito H., Tatamidani K., Mimura T., Ichikawa H., Yaguchi H., Nakamura N., Hirota H., Shimoda M., Ono R., Inagaki Y., Nakanishi N.
Honjo S., Masuda T., Watanabe M., Yumura H., Ashibe Y., Ohya M., Hara T., Itoh H., Mimura T., Ichikawa H., Yaguchi H., Nakamura N., Shimoda M., Ohno R., Komagome T.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Nakamura N., Takemoto T., Kikutake R.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, texture, microstructure, fabrication, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Morita K., Nakamura N.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.